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X荧光光谱仪更智能的未来前景

来源:www.visssea.com 发表时间:2021-01-21

  X荧光光谱仪对许多实验操作人员来说并不陌生。我们知道它有两种基本类型:波长色散(WD-XRF)和能量色散(ED-XRF)。波长色散是基于X射线荧光波粒二象性的波长特性原理,而能量色散是基于能量特性原理。

X荧光光谱仪更智能的未来前景

  它是一种快速、无损的材料测量方法。用高能X射线或γ射线轰击材料产生的二次X射线能根据各元素的特征X射线强度来测量元素含量,是一种快速、无损的方法。可用于冶金、地质、有色金属、建材、商检、环保、卫生等领域。
  值得一提的是,它广泛应用于RoHS检测领域。传统的XRF检测面临许多问题。实验室工作人员工作辛苦,重复性工作多,效率低。人工成本很高,手工阅读,大量机械,重复操作,工作枯燥乏味。
  数据可靠性低,手工读取容易出错,检测结果往往不一致,结果稳定性低,一次X光或二次X光对周围人体有或多或少的辐射,对实验室工作人员健康危害的风险低。

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