X荧光光谱仪对许多实验操作人员来说并不陌生。我们知道它有两种基本类型：波长色散(WD-XRF)和能量色散(ED-XRF)。波长色散是基于X射线荧光波粒二象性的波长特性原理，而能量色散是基于能量特性原理。

　　它是一种快速、无损的材料测量方法。用高能X射线或γ射线轰击材料产生的二次X射线能根据各元素的特征X射线强度来测量元素含量，是一种快速、无损的方法。可用于冶金、地质、有色金属、建材、商检、环保、卫生等领域。
　　值得一提的是，它广泛应用于RoHS检测领域。传统的XRF检测面临许多问题。实验室工作人员工作辛苦，重复性工作多，效率低。人工成本很高，手工阅读，大量机械，重复操作，工作枯燥乏味。
　　数据可靠性低，手工读取容易出错，检测结果往往不一致，结果稳定性低，一次X光或二次X光对周围人体有或多或少的辐射，对实验室工作人员健康危害的风险低。