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X射线镀层测厚仪在检测时具有什么原理

来源:www.visssea.com 发表时间:2020-12-28

  X射线镀层测厚仪已成为加工业和表面工程质量检验的重要组成部分,是产品达到优良质量标准的必要手段。为了使我们的产品国际化,我们的出口商品和国外项目对镀层厚度都有明确的要求。

X射线镀层测厚仪在检测时具有什么原理

  X射线涂层测厚仪的主要测量方法有:楔形切割法、光切割法、电解法、厚度差测量法、称重法、X射线荧光法、β射线背散射法、电容法、磁法、涡流测量法,在这些方法中,前五种是有损检测,测量手段繁琐、速度慢,多数适合抽样检验。
  X射线涂层测厚仪是用X射线激发各种物质的特征X射线,然后测量释放的特征X射线的能量,对样品进行定性测定,测量释放的特征X射线的强度,并与标准胶片(或对照样品)进行比较,得到每种物质的厚度在软件的背景下,强度与厚度的对应关系形成一条曲线。
  随着各种物质强度的增加,厚度也随之增加,但不是线性关系;通过标样和软件及算法,得到一条接近实际对应关系的曲线。X射线荧光是被分析样品在X射线照射下发出的X射线,它包含了被分析样品的化学成分信息。

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