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镀层测厚仪的原理解析及测量方法

来源:www.visssea.com 发表时间:2020-12-07

  镀层测厚仪采用霍尔效应原理,也可用于钢铁之列的铁磁性金属基体上的镀层、清漆、搪瓷、镀铬、镀锌等非磁性镀层的测量,也可用于铜、铝、压铸锌、黄铜等非磁性金属基体上的镀层、阳极氧化层、陶瓷等非导电镀层的测量。

镀层测厚仪的原理解析及测量方法

  磁厚度测量的原理是测量磁体与镀层或磁体与基体之间的磁吸力。还可以测量穿过涂层和基体的磁通量。磁吸力和磁通量随磁体与基体之间非磁性层厚度的变化而变化,涂层厚度可根据变化量进行测量。
  涡流测厚法的原理是在被测物体的非磁性金属表面,由于线圈的交变磁通所产生的涡流而改变探头线圈的表观阻抗。这反过来改变了流过探头线圈的交流电的宽度,可以用连接到探头上的灵敏仪器来测量。
  感应涡流的大小随探头线圈和基底金属之间的距离而变化,即线圈接触时的干膜厚度。它可分为交流电源和电池供电两种。ls223涂层测厚仪的启动方法之一是在测试过程中探头自动触发启动,并直接显示测量结果。

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