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未来镀层测厚仪测量技术的发展方向

来源:www.visssea.com 发表时间:2020-09-21

  镀层测厚仪测量等是一门现在比较热的学科。它涉及材料的物理性能、产品设计、制造工艺、断裂力学和有限元计算。在化工、电子、电力、金属等行业,为了实现对各种材料的保护或装饰,通常采用喷涂、有色金属喷涂、磷化等方法。

未来镀层测厚仪测量技术的发展方向

  这样,涂层、涂层、涂层、层压或化学形成的薄膜的概念出现了,我们称之为包层。随着大量非接触、测量仪器的出现,专家预测,涂层测厚仪测量技术在21世纪的发展方向大致是测量精度从微米级发展到纳米级,测量分辨率提高进一步提高。
  由点测量向表面测量过渡,即从长度的测量向形状的测量过渡,从而提高整体测量精度;随着图像处理等新技术的应用,遥感技术将在测量工程中推广应用;随着标准化体系的建立和测量不确定度的数字化,将有效提高测量的可靠性。
  总之,测量技术既要达到高精度,又要求高速。因此,非接触测量和效率测量将成为新世纪测量技术的重要发展方向。近年来,利用光学原理研制了许多非接触式测量仪器。

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