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X荧光光谱仪的优缺点及分类

来源:www.visssea.com 发表时间:2020-08-06

  X荧光光谱仪由激发源和检测系统组成。射线管产生入射射线,激发样品产生射线荧光,探测器检测射线荧光。分析速度快。测定时间与测定精度有关,但通常很短。

X荧光光谱仪的优缺点及分类

  所有需要测定的元素都可以在10-300秒内确定。X射线荧光光谱与样品的化学结合状态无关,与固体、粉末、液晶、非晶材料的状态无关。气封也可以在容器内进行分析,但在高分辨率测量中会出现波长变化现象。
  特别是在超软X射线范围内,这种效应更为显著。波长变化用于测定化学势。无损分析。不会引起化学状态的变化和样品飞扬的现象。同一样品可重复测量,重现性好。
  X射线荧光分析是一种物理分析方法,它也可以用来分析化学性质上属于同一基团的元素。高精度分析。目前,含量已达到ppm水平。可用于样品制备、固体分析等。定量分析需要标准样品。对轻元素的敏感度较低。易受元素相互干扰和叠加的影响。

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