X荧光镀层测厚仪是一种使用广泛的测量仪器，主要用于测量物品镀层表面，结果精准且使用操作方便，今天就来给大家介绍一下它的应用介绍。

　　X荧光镀层测厚仪是一种应用广泛的能量色散X射线荧光光谱仪。它使用一个大的铍窗，超薄窗和高分辨率的SDD探测器。其探测器分辨率低至139eV，处于国际水平。产品采用顶部照明设计，多个辐射防护装置和X射线发生器，使辐射剂量符合国际规定;样品观测系统采用CCD摄像机、数字多通道分析仪、激光定位、专有测厚分析软件，各项指标均达到相关技术要求和技术达到国际水平。

　　本镀膜仪是专门为电子半导体、金属电镀、印刷电路板、珠宝手表、检测机构等行业设计的。XYZ的三个可调方向、全方位的样品观察系统和激光定位使检测更加方便。内部测试空间大，散热效果好，抗电磁干扰能力强，模块化结构设计，安装、调试、维护更加方便，能适应恶劣的工作环境。

　　以上就本次关于X荧光镀层测厚仪的使用介绍了，希望对您有帮助。